粒子图像测速仪的基本原理

       粒子图像测速仪的基本原理是在流场中撒布合适的示踪粒子，用脉冲激光片光照射所测流场切面区域，通过成像记录系统摄取两次或多次曝光的粒子图像，形成PIV底片。再用粒子图象相关等方法逐点处理PIV底片，获取每一判读点小区域中粒子图像的平均位移，由此确定流场切面上多点的二维速度。PIV系统的工作过程主要包括撤布粒子、片光源、摄像和图象处理等几个阶段。

       粒子图像测速仪的突出优点表现在：

       （1）是一种非接触式流动测量方法，突破了空间单点测量（如LDV）的局限性，实现了全流场瞬态测量；

       （2）实现了无扰测量，而用毕托管或HWFV等仪器测量时对流场都有一定的干扰；       

       （3）容易求得流场的其他物理量，由于得到的是全场的速度信息，可方便的运用流体运动方程求解诸如压力场、涡量场等物理信息。因此，该技术在流体测量中占有重要的地位。

       粒子图像测速仪技术作为研究各种复杂流场的一种基本手段，已广泛应用于各种流动中，从定常流动到非定常流动、低速流动到高速流动、单相流动到多相流动，非常适于研究涡流、湍流等复杂的流动结构，也可应用于粒子测速和图像测速等前沿科学等方面。